Журнал физической химии и биофизики
Открытый доступ

Абстрактный

Комплементарный структурный анализ поверхностно-функционализированных наночастиц с помощью АСМ/ТЭМ

Руози Б., Беллетти Д., Ванделли М.А., Ф. Педерзоли, П. Вератти, Ф. Форни, Дж. Този, Тонелли М. и Заппароли М.

В области наномедицины характеристика функционализированных систем доставки лекарств, представленных на рынке как эффективные и селективные терапевтические средства, представляет собой важнейший аспект. В частности, морфология полимерных наночастиц, наиболее изученных наноносителей, часто оценивается с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Несмотря на высокое разрешение и универсальность ПЭМ, эта технология часто затрудняется как сложной процедурой подготовки образцов, так и оперативными условиями анализа. Рассматривая сканирующую зондовую микроскопию, атомно-силовая микроскопия (АСМ) представляет собой исключительный инструмент для детальной характеристики субмикронной структуры как поверхностной функционализации в атомном масштабе. В данной статье мы обсудили преимущества и ограничения этих микроскопов, применяемых для характеристики наночастиц PLGA, функционализированных тремя различными видами лигандов (углеводный лиганд, антитело и кристаллы квантовых точек), специально разработанных, созданных и адаптированных с определенными физико-химическими свойствами для удовлетворения потребностей конкретных приложений (нацеливание или визуализация).