ISSN: 2376-130X
Джозеф Паннеердосс I, Джонсон Джеякумар С, Рамалингам С и Джотибас М
В этой работе тонкая пленка оксида индия (In2O3) успешно нанесена на микроскопическую стеклянную подложку при различных температурах методом распылительного пиролиза с использованием InCl3 в качестве прекурсора. Физические свойства этих пленок охарактеризованы с помощью измерений XRD, SEM, AFM, FT-IR, FT-Raman, UV-vid и AFM. Анализ XRD выявил, что структурная трансформация пленок из стехиометрической в нестехиометрическую ориентацию плоскости наоборот, а также обнаружил, что пленка является поликристаллической по своей природе, имеющей кубическую кристаллическую структуру с предпочтительной ориентацией зерен вдоль плоскости (222). Исследования SEM и AFM показали, что пленка с 0,1M при 500 °C имеет сферические зерна с однородными размерами. Был проведен полный вибрационный анализ, и оптимизированные параметры рассчитаны с использованием методов HF и DFT (CAM-B3LYP, B3LYP и B3PW91) с базисным набором 3-21G (d,p). Кроме того, химические сдвиги ЯМР рассчитываются с использованием метода калибровочно-независимых атомных орбиталей (GIAO). Молекулярные электронные свойства; длины волн поглощения, энергия возбуждения, дипольный момент и граничные молекулярные орбитальные энергии, анализ молекулярной электростатической потенциальной энергии (MEP) и поляризуемость первого порядка гиперполяризуемости рассчитываются с помощью подхода DFT, зависящего от времени (TD-DFT). Было исследовано энергетическое возбуждение в электронной структуре и обсуждается назначение полос поглощения в электронных спектрах устойчивого соединения. Рассчитанные энергии HOMO и LUMO показали увеличение энергетической щели за счет добавления замещений с базовой молекулой. Термодинамические свойства (теплоемкость, энтропия и энтальпия) при различных температурах рассчитываются и интерпретируются в газовой фазе.