ISSN: 1314-3344
Джонатан Блэкледж и Марек Ребоу
Рассматривается двумерное рассеяние Борна для нерелятивистского случая с целью исследования свойств электронного транспорта в монослое графена, подверженного приложенному параллельному электрическому полю. Решения для плотности вероятности тока (PDC) получены в зоне Френеля, что обеспечивает модель для моделирования PDC, подверженного смятию мембраны. В этом контексте рассматривается модель случайных фрактальных дефектов, которая используется для оценки влияния (фрактального) смятия на PDC.